Publication
Analisador paramétrico de transístores com controlo de temperatura
| dc.contributor.author | Campos, F. | |
| dc.contributor.author | Coelho, J. | |
| dc.contributor.author | Gomes, M. | |
| dc.contributor.author | Pinto, A. | |
| dc.contributor.author | Ramos, H. | |
| dc.date.accessioned | 2018-08-30T09:09:11Z | |
| dc.date.available | 2018-08-30T09:09:11Z | |
| dc.date.issued | 2005 | |
| dc.description.abstract | Neste documento é descrito um analisador de características estáticas de transístores de junção bipolar cuja temperatura da cápsula do transístor em teste pode ser controlada, constituindo assim um dos parâmetros de análise. O analisador foi desenvolvido para suprir a necessidade de demonstração em aulas laboratoriais da dependência com a temperatura de algumas características estáticas dos transístores bipolares, tendo portanto um cariz eminentemente pedagógico. | pt_PT |
| dc.description.version | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | pt_PT |
| dc.identifier.citation | CAMPOS, F.; [et al] – Analisador paramétrico de transístores com controlo de temperatura. In JETC05 – Jornadas de Engenharia de Eletrónica e Telecomunicações e de Computadores. Lisboa, Portugal: ISEL – Instituto Superior de Engenharia de Lisboa, 2005. Pp. 1-8 | pt_PT |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10400.21/8806 | |
| dc.language.iso | por | pt_PT |
| dc.peerreviewed | no | pt_PT |
| dc.publisher | ISEL - Instituto Superior de Engenharia de Lisboa | pt_PT |
| dc.subject | Transístores | pt_PT |
| dc.subject | Temperatura | pt_PT |
| dc.title | Analisador paramétrico de transístores com controlo de temperatura | pt_PT |
| dc.type | conference object | |
| dspace.entity.type | Publication | |
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| rcaap.rights | openAccess | pt_PT |
| rcaap.type | conferenceObject | pt_PT |