| Name: | Description: | Size: | Format: | |
|---|---|---|---|---|
| 138.61 KB | Adobe PDF |
Authors
Advisor(s)
Abstract(s)
Neste documento é descrito um analisador de características estáticas de transístores de junção bipolar cuja temperatura da cápsula do transístor em teste pode ser controlada, constituindo assim um dos parâmetros de análise.
O analisador foi desenvolvido para suprir a necessidade de demonstração em aulas laboratoriais da dependência com a temperatura de algumas características estáticas dos transístores bipolares, tendo portanto um cariz eminentemente pedagógico.
Description
Keywords
Transístores Temperatura
Citation
CAMPOS, F.; [et al] – Analisador paramétrico de transístores com controlo de temperatura. In JETC05 – Jornadas de Engenharia de Eletrónica e Telecomunicações e de Computadores. Lisboa, Portugal: ISEL – Instituto Superior de Engenharia de Lisboa, 2005. Pp. 1-8
Publisher
ISEL - Instituto Superior de Engenharia de Lisboa