Browsing by Author "Roque, Rodrigo Valente"
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- Modelos de previsão do tempo de vida de dispositivos de armazenamento de energiaPublication . Roque, Rodrigo Valente; Sobral, José Augusto da Silva; Silva, Maria Teresa Oliveira Moura eOs ensaios acelerados de vida são um método que visa simular as condições de uso e desgaste ao longo do tempo num curto período. Permitem que os fabricantes identifiquem potenciais problemas de desempenho, falhas ou degradação precoce no processo de desenvolvimento, o que leva a melhorias na qualidade e fiabilidade do produto. A presente dissertação tem como principal objetivo a definição do tempo de vida de dispositivos de armazenamento de energia, recorrendo ao envelhecimento acelerado de protótipos de supercondensadores, através de ensaios acelerados de vida. É feita uma introdução completa ao tema dos ensaios acelerados de vida e como estes se apresentam na área da fiabilidade e da estatística, e também a um tema cada vez mais emergente no panorama atual português e mundial, que são as energias renováveis e as tecnologias de armazenamento de energia. Para verificar e implementar os conceitos apresentados, no caso de estudo foram realizados ensaios a protótipos de supercondensadores onde foram expostos a várias tensões superiores à de uso normal, visando acelerar a degradação dos mesmos, até se alcançar a falha. O objetivo da realização destes ensaios passou por prever o tempo de vida destes dispositivos em condições normais de utilização, através da extrapolação de dados a um nível de envelhecimento acelerado. Os dados relativos aos ensaios do caso de estudo foram obtidos através da realização de ensaios acelerados designados como floating tests e depois ajustados a um modelo de degradação adequado. De seguida foram analisados e tratados recorrendo a um software que permitiu obter dados acerca da vida destes componentes, prevendo assim o seu tempo de vida útil a um nível de utilização normal e validando assim a vertente teórica demonstrada no Capítulo 4. Com base nos ensaios realizados e da análise feita aos dados, concluiu-se que existe uma redução gradual do tempo até à falha dos dispositivos, à medida que é imposta uma tensão crescente. Notou-se também que existe um intervalo de valores de tensão onde a degradação dos dispositivos evolui exponencialmente até alcançar a falha, indiciando assim um possível fenómeno de degaste acelerado nessa gama de valores.