Analisador paramétrico de transístores com controlo de temperatura

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Title:	Analisador paramétrico de transístores com controlo de temperatura
Author:	Campos, F. Coelho, J. Gomes, M. Pinto, A. Ramos, H.
Keywords:	Transístores Temperatura
Issue Date:	2005
Publisher:	ISEL - Instituto Superior de Engenharia de Lisboa
Citation:	CAMPOS, F.; [et al] – Analisador paramétrico de transístores com controlo de temperatura. In JETC05 – Jornadas de Engenharia de Eletrónica e Telecomunicações e de Computadores. Lisboa, Portugal: ISEL – Instituto Superior de Engenharia de Lisboa, 2005. Pp. 1-8
Abstract:	Neste documento é descrito um analisador de características estáticas de transístores de junção bipolar cuja temperatura da cápsula do transístor em teste pode ser controlada, constituindo assim um dos parâmetros de análise. O analisador foi desenvolvido para suprir a necessidade de demonstração em aulas laboratoriais da dependência com a temperatura de algumas características estáticas dos transístores bipolares, tendo portanto um cariz eminentemente pedagógico.
Peer review:	no
URI:	http://hdl.handle.net/10400.21/8806
Appears in Collections:	ISEL - Eng. Elect. Tel. Comp. - Posters

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