Campos, F.Coelho, J.Gomes, M.Pinto, A.Ramos, H.2018-08-302018-08-302005CAMPOS, F.; [et al] – Analisador paramétrico de transístores com controlo de temperatura. In JETC05 – Jornadas de Engenharia de Eletrónica e Telecomunicações e de Computadores. Lisboa, Portugal: ISEL – Instituto Superior de Engenharia de Lisboa, 2005. Pp. 1-8http://hdl.handle.net/10400.21/8806Neste documento é descrito um analisador de características estáticas de transístores de junção bipolar cuja temperatura da cápsula do transístor em teste pode ser controlada, constituindo assim um dos parâmetros de análise. O analisador foi desenvolvido para suprir a necessidade de demonstração em aulas laboratoriais da dependência com a temperatura de algumas características estáticas dos transístores bipolares, tendo portanto um cariz eminentemente pedagógico.porTransístoresTemperaturaAnalisador paramétrico de transístores com controlo de temperaturaconference object